泰勒經銷商LuphoScan光學鏡片三維形貌輪廓儀 LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(MWLI)的干涉式掃描測量系統。設計用于旋轉對稱光學組件(例如非球面透鏡)的精密非接觸式3D形狀測量的目的,可以在納米級上測量3D光學組件的真實形狀。
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