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產(chǎn)品名稱: |
泰勒經(jīng)銷商LuphoScan光學(xué)鏡片三維形貌輪廓儀 |
發(fā)布時(shí)間: |
2024-09-03 |
產(chǎn)品品牌: |
TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
泰勒經(jīng)銷商LuphoScan光學(xué)鏡片三維形貌輪廓儀LuphoScan測(cè)量平臺(tái)是一款基于多波長(zhǎng)干涉技術(shù)(MWLI)的干涉式掃描測(cè)量系統(tǒng)。設(shè)計(jì)用于旋轉(zhuǎn)對(duì)稱光學(xué)組件(例如非球面透鏡)的精密非接觸式3D形狀測(cè)量的目的,可以在納米級(jí)上測(cè)量3D光學(xué)組件的真實(shí)形狀。 |
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泰勒經(jīng)銷商LuphoScan光學(xué)鏡片三維形貌輪廓儀的詳細(xì)資料: |
泰勒經(jīng)銷商LuphoScan光學(xué)鏡片三維形貌輪廓儀 LUPHO Scan 120、260、420的三種型號(hào)可以通過被測(cè)零件的尺寸和可選功能進(jìn)行選擇 泰勒經(jīng)銷商LuphoScan光學(xué)鏡片三維形貌輪廓儀 LuphoScan測(cè)量平臺(tái)是一款基于多波長(zhǎng)干涉技術(shù)(MWLI)的干涉式掃描測(cè)量系統(tǒng)。LUPHO Scan是基于MWLI方法技術(shù)(多波長(zhǎng)干涉儀)的測(cè)量設(shè)備。設(shè)計(jì)用于旋轉(zhuǎn)對(duì)稱光學(xué)組件(例如非球面透鏡)的精密非接觸式3D形狀測(cè)量的目的,可以在納米級(jí)上測(cè)量3D光學(xué)組件的真實(shí)形狀。 它專為旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面的精密非接觸式3D形狀測(cè)量而設(shè)計(jì), 例如非球面光學(xué)透鏡。LuphoScan平臺(tái)能夠輕松進(jìn)行非球面、球面、平面和自由曲面的測(cè)量。 該儀器的主要特性包括高速測(cè)量、特殊表面的高靈活度測(cè)量(例如:拐點(diǎn)的輪廓或平坦的尖點(diǎn))。 因?yàn)椴捎枚嗖ㄩL(zhǎng)干涉技術(shù)(MWLI)傳感器技術(shù), 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。能夠測(cè)量120/260/420/600毫米直徑光學(xué)組件的高速非接觸式3D光學(xué)表面形狀測(cè)量?jī)x/輪廓儀. 主要應(yīng)用領(lǐng)域LuphoScan測(cè)量系統(tǒng)用于測(cè)量可旋轉(zhuǎn)的對(duì)稱表面的3D拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測(cè)量工作臺(tái)的設(shè)計(jì)能夠確保測(cè)量大多數(shù)的透鏡, 而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀(平頭)、傾斜或者發(fā)射點(diǎn)圖的限制。除了標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量應(yīng)用外, 還可以使用LuphoScan測(cè)量平臺(tái)的特殊擴(kuò)展工具LuphoSwap不同擴(kuò)展功能, 來完成多種光學(xué)要素特征的測(cè)量。該工具能夠輔助測(cè)量透鏡厚度, 以及楔形與偏心誤差。 除此之外, 額外的附加軟件類型能夠直接測(cè)量間斷的透鏡,如分段表面包括矩形部件、環(huán)形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。 高響應(yīng)度的傳感器可確保高測(cè)量速度: 鏡頭類型 | 尺寸 | 測(cè)量時(shí)間 |
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大多數(shù)非球面鏡片 | φ420毫米 | 不到8分鐘 | 非拋光非球面鏡片 | φ55毫米 | 4分45秒 | 拋光非球面鏡片 | φ54毫米 | 4分50秒 | 鷗翼形非球面鏡片 | φ48毫米 | 3分45秒 |
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有: ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀; ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x; ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺; ==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀; ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀; ==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀; ==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀; ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺; ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺; ==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng); ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器; ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀; ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī); ==>>杭州思看科技三維掃描儀.
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