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  • 微電腦多功能電解測厚儀STEP

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  • 上海庫侖電解測厚儀Couloscope CMS2 STEP

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    電鍍工業(yè)庫倫測厚儀(X射線更經(jīng)濟(jì)) 如果非破壞性的方法無法使用時(shí),可選擇Couloscope Step CMS2測量金屬或非金屬基材上的幾乎任何金屬涂層的厚度,特別是多個(gè)涂層的厚度。庫侖法可用于地確定任何類型的基底上的多層。

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  • couloscope cms德國菲希爾電解測厚儀

    couloscope cms德國菲希爾電解測厚儀 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。

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  • 德國進(jìn)口電解測厚儀Couloscope CMS2

    德國進(jìn)口電解測厚儀Couloscope CMS2 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。

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  • 菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫多層鍍層測厚儀

    菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫多層鍍層測厚儀 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度 。

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  • 菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

    菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀COULOSCOPE®CMS STEP除了與COULOSCOPE®CMS相對(duì)應(yīng)的涂層厚度測量之外,COULOSCOPE®CMS STEP還提供了根據(jù)ASTM B764 - 94和DIN 50022進(jìn)行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE®CMS STEP非常適合測量 以簡單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式,單個(gè)涂層厚度和多個(gè)鎳涂層的電位差 。

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  • 菲希爾代理Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

    菲希爾代理Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀 菲希爾測試儀器(fischer中國)有限公司成立于1997年,fischer集團(tuán)公司在中國的子公司,全權(quán)負(fù)責(zé)fischer產(chǎn)品中國地區(qū)的組裝、銷售、安裝、維修、備品備件及技術(shù)咨詢等。菲希爾測試(中國)儀器有限公司在北京、上海、西安、蘇州、寧波、東莞、香港設(shè)有分公司、辦事處、售后服務(wù)站。

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  • Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀

    Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀 在電鍍行業(yè)中,對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度及電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求,德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應(yīng)此而成功研制并大量應(yīng)用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。

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  • Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀

    Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。

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  • 德國菲希爾couloscope CMS2庫倫法測厚儀

    德國菲希爾couloscope CMS2庫倫法測厚儀 庫倫法測厚儀是德國菲希爾旗下一款大型測厚儀,不再是小型測厚儀。價(jià)格更加昂貴,測量的精度和種類也隨之大幅度增加。

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  • Couloscope CMS多層鍍鎳電位差庫侖測厚儀

    Couloscope CMS多層鍍鎳電位差庫侖測厚儀 Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對(duì)多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為-種標(biāo)準(zhǔn)的操作。 。

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