電導(dǎo)率計(jì)SMP10 fischer德國(guó)進(jìn)口
SIGMASCOPE SMP10是一種便攜手持式式電導(dǎo)率計(jì)，可提供快速，簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)量，并且在必要時(shí)可以無(wú)接觸地測(cè)量非磁性金屬的電導(dǎo)率。
SIGMASCOPE®SMP10-HF可用于飛機(jī)行業(yè)中厚度僅為0.2 mm的非常薄的鋁鍍層的電導(dǎo)率測(cè)量 SIGMASCOPE SMP10是一種緊湊、符合人體工程學(xué)的便攜式儀器,具有防震合成外殼、大型背光液晶顯示屏和用戶(hù)友好的鍵盤(pán),可直接訪(fǎng)問(wèn)重要的測(cè)星功能。SIGMASCOPE?SMP10根據(jù)DIN EN 2004一1和ASTM E 1004使用渦流法進(jìn)行測(cè)量電導(dǎo)率,相敏信號(hào)保證了對(duì)電導(dǎo)率的非接觸式測(cè)量,在涂層高達(dá)500μm的情況下減少了糙度對(duì)測(cè)量的影響。
SIGMASCOPE SMP10非鐵磁性金屬電導(dǎo)率測(cè)量手持式儀器,提供快速、簡(jiǎn)單、現(xiàn)場(chǎng)和必要時(shí)非接觸式測(cè)量。基于用戶(hù)友好的軟件菜單,用戶(hù)可以快速方便地選擇測(cè)星應(yīng)用所需的儀器設(shè)置,進(jìn)行評(píng)估,并以期望的方式呈現(xiàn)測(cè)量結(jié)果。不僅在數(shù)字格式,而且在圖形格式中插入了特殊的限制或直方圖。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量模式下,顯示器顯示測(cè)星的數(shù)量n和導(dǎo)電性有效目前除了電導(dǎo)率溫度補(bǔ)償20°C包括計(jì)量單位和測(cè)量頻率。在統(tǒng)計(jì)顯示模式中，顯示器還提 供關(guān)于運(yùn)行平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差的信息。
應(yīng)用：
-鋁銅等的生產(chǎn)過(guò)程中的電導(dǎo)率測(cè)量
-監(jiān)控航空和汽車(chē)工業(yè)中鋁加工合金的熱處理工藝，強(qiáng)度和硬度。
-在對(duì)鋁進(jìn)行陽(yáng)極氧化之前檢查電導(dǎo)率。
-確定純度和廢金屬分類(lèi)。
測(cè)量原理
SIGMASCOPE®SMP10根據(jù)DIN EN 2004-1和ASTM E 1004使用渦流法測(cè)量電導(dǎo)率。相敏測(cè)量信號(hào)評(píng)估能夠無(wú)接觸地確定電導(dǎo)率，例如在油漆或合成條件下 涂層厚度可達(dá)500 µm。 這也使表面粗糙度的影響*小化。
技術(shù)數(shù)據(jù)
•符合人體工程學(xué)的堅(jiān)固外殼； 用戶(hù)友好的鍵盤(pán)。
•大型背光LCD顯示屏可顯示測(cè)量數(shù)據(jù)，測(cè)量參數(shù)和圖形。
•測(cè)量頻率為60 kHz，120 kHz，
240 kHz和480 kHz，無(wú)需更換探頭。
•測(cè)量范圍：0.5-65 MS / m或1-112％IACS。
•室溫下的測(cè)量精度：相對(duì)于MV為±0.5％。
•每秒多16次測(cè)量。
•提升補(bǔ)償大為0.5毫米。
•測(cè)量區(qū)域的小直徑，對(duì)測(cè)量沒(méi)有明顯影響：13 mm
篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀；
==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
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德國(guó)菲希爾FISCHER
菲希爾測(cè)厚儀
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