馬爾 MarSurf XCR20粗糙度、輪廓一體機(jī)
Marsurf XC 20 + MarSurf XR 20 = MarSurf XCR 20
馬爾MARSURF XCR20粗糙度輪廓儀是新一代組合式表面粗糙與輪廓測(cè)量?jī)x該儀器集成了成熟的粗糙度測(cè)量?jī)xXR20 以及輪廓測(cè)量?jī)xXC20 功能，儀器結(jié)構(gòu)緊湊，性能優(yōu)良，是您日常檢測(cè)的得力助手。MarSurf XCR 20采用了輪廓和粗糙度軟件的組合，每個(gè)都有自己的界面。Mahr的zui測(cè)量系統(tǒng)甚至允許使用半自動(dòng)的操作序列，如測(cè)量支架定位(ST 750 CNC)。MarSurf LD 120為具有大行程和高分辨率的組件提供高精度的輪廓和粗糙度評(píng)估系統(tǒng)。作為一個(gè)儀器結(jié)合了xc20和xr20的組合功能，節(jié)省了時(shí)間和空間。您可以選擇在軟件平臺(tái)的粗糙度和輪廓測(cè)量之間快速切換，并更換機(jī)械部件。
應(yīng)用：
機(jī)器建造
軸承、螺紋、螺紋柱、滾珠絲杠、軸、支架、閥門(mén)
汽車(chē)工業(yè)
轉(zhuǎn)向、剎車(chē)系統(tǒng)、變速箱、機(jī)軸、氣缸蓋、氣缸體、渦輪增壓器
機(jī)器
髖關(guān)節(jié)和膝關(guān)節(jié)內(nèi)用假體的輪廓和表面粗糙度測(cè)量， 醫(yī)用螺絲輪廓測(cè)量，種植牙的輪廓和表面粗糙度測(cè)量
航空
渦輪組件 |  |
產(chǎn)品特點(diǎn)：
在測(cè)量站使用 MarSurf XCR 20 測(cè)量粗糙度和輪廓
這個(gè)綜合的測(cè)量站可在一臺(tái)測(cè)量站上同時(shí)執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測(cè)量。根據(jù)測(cè)量任務(wù)，可使用 GD 25 驅(qū)動(dòng)裝置進(jìn)行表面粗糙度測(cè)量，或使用 PCV 驅(qū)動(dòng)裝置進(jìn)行輪廓測(cè)量。兩個(gè)測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)組合支架固定到測(cè)量立柱。
節(jié)省空間型設(shè)計(jì)：兩個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測(cè)量立柱
一次測(cè)量即可完成粗糙度和輪廓評(píng)估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測(cè)量系統(tǒng)對(duì)組件進(jìn)行高精密度輪廓和粗糙度評(píng)估需要長(zhǎng)行程和*的分辨率只需在軟件平臺(tái)內(nèi)進(jìn)行切換并更換驅(qū)動(dòng)裝置和測(cè)頭等機(jī)械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測(cè)量
測(cè)量/評(píng)定：基于Windows操作系統(tǒng)的MarSurf XR 20軟件具有德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、意大利語(yǔ)以及西班牙語(yǔ)等多種語(yǔ)言。
馬爾MarSurf XCR20粗糙度儀輪廓儀測(cè)量程序：
馬爾MarSurf XCR20粗糙度儀輪廓儀是Mahr公司表面形貌特征測(cè)量系統(tǒng)的入門(mén)級(jí)產(chǎn)品。此設(shè)備以個(gè)人計(jì)算機(jī)作為基礎(chǔ)，提供的所有通用參數(shù)和曲線圖形都符合標(biāo)準(zhǔn) 。 Quick & Easy是Mahr公司為了客戶(hù)能進(jìn)行快速和簡(jiǎn)易的操作而特意設(shè)計(jì)的 測(cè)量程序， 您不用為高難度的操作過(guò)程所煩惱，簡(jiǎn)單明了的符號(hào)將輔助您輕松完成各項(xiàng)測(cè)量。 測(cè)量工作站適合在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線進(jìn)行測(cè)量。有多種結(jié)構(gòu)可供選擇，以便在表面形貌特征測(cè)量系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)測(cè)量微元素的無(wú)限可能性。
技術(shù)規(guī)格：
接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
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測(cè)桿長(zhǎng)度 | 175 mm, 350 mm |
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測(cè)量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
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針尖半徑 | 25 |
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掃描長(zhǎng)度末尾（X 方向） | 200 mm |
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分辨率 | Z 方向，相對(duì)探針針頭：
0.38 µm（350 mm 測(cè)桿）/ 0.19 µm（175 mm 測(cè)桿） Z 方向，相對(duì)測(cè)量系統(tǒng)：
0.04 µm |
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掃描長(zhǎng)度開(kāi)始（X 方向） | 0.2 mm |
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取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差：
后緣高至 88°，前緣高至 77° |
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定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
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導(dǎo)塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
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測(cè)量原則 | 探針?lè)?/span> |
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輸入 | R 測(cè)頭，MFW 250
光學(xué)測(cè)頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10*
（*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動(dòng)裝置） |
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測(cè)量范圍 mm | (in Z) 50 mm
MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（zui高 ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（zui高 ±30,000 µm） |
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掃描長(zhǎng)度（文本） | 自動(dòng)；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm，
（.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸），
測(cè)量至擋塊，可變 |
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采樣長(zhǎng)度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認(rèn)：5） |
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測(cè)量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右
（可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置） |
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