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智能測量模式滿足不同任務(wù)的需要

不同的工作需要不同的工具。使用儀器上的滾輪能簡單快速地

顯示所需功能–甚至無需通過電腦：

基本測量模式 可為您快速簡單地測量幾個樣品的工具。

 
基本測量模式

統(tǒng)計測量模式 并不僅僅顯示平均值，而且還可以所有統(tǒng)計數(shù)據(jù)

用于判斷是否有測量誤差或者用于樣品的均質(zhì)性判定。您可自

定義所有想看到的數(shù)據(jù)：平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，范圍，zui大值/zui

小值…

 統(tǒng)計測量模式

差值模式 允許您定義一個帶有合格/不合格允差限的參考值，

所有實測值將與所選擇的參考值進(jìn)行對比。合格/不合格將通過

高分辨率的彩色屏顯示出來-理想的生產(chǎn)控制模式。

 差值模式

連續(xù)測量模式 是快速檢查大面積樣品的均質(zhì)性zui有效的方法。

您確定好測量間隔后將微型光澤儀在樣品上持續(xù)滑行即刻得到

連續(xù)測量結(jié)果。測量結(jié)束后，屏幕顯示平均值、zui大/zui小值的

范圍。

 連續(xù)測量模式

技術(shù)性能：

工業(yè)領(lǐng)域中不可超越

無論您的生產(chǎn)環(huán)境有多糟糕或者允差控制的有多嚴(yán)格，微型光

澤儀的準(zhǔn)確性和可靠性被成千上萬的用戶所證明，它的品質(zhì)zui

佳。

長期穩(wěn)定的LED光源不僅能提供長期重復(fù)性高的結(jié)果，而且不

再需要更換燈泡，我們甚至對燈泡的使用壽命給出10年質(zhì)保

期。

得益于良好的溫度控制技術(shù)，微型光澤儀保證測量的數(shù)據(jù)高度

穩(wěn)定–無論您身處實驗室還是移步至生產(chǎn)線上的“熱點”。

我們具有的校準(zhǔn)程序可確保生產(chǎn)的每臺光澤儀具有的

儀器間*性。無論您的客戶在多遠(yuǎn)的地方，只要他是我們光

澤儀眾多用戶中的一員，他就能夠得出跟您一樣的測量數(shù)據(jù)。

微型三角度光澤儀

在正確的角度下 –

觀察產(chǎn)品的變化

高-中-低光澤：您的應(yīng)用屬于哪一種？

三角度光澤儀集20°, 60°, 85°三種角度于一體–如同

單角度儀器一樣便攜。三個角度在一臺儀器上使您能按標(biāo)

準(zhǔn)迅速覺察到質(zhì)量的變化。

所有被選擇的角度可在同一個點上測量，并立即顯示測量結(jié)果

–包括統(tǒng)計、差值、合格/不合格結(jié)果。

以下例子在20°

角下兩個樣品的讀數(shù)更能顯示出兩個樣品間光澤的差異：

為了清楚地得到從平光到高光的整個范圍內(nèi)的光澤度差值，國

際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了三個角度。每個角度都在對應(yīng)的光澤范圍內(nèi)進(jìn)行

優(yōu)化測量。

微型三角度光澤儀μ

光澤和厚度測量集于一身

一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達(dá)到客戶要求的質(zhì)量規(guī)

格。光澤和厚度是評估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。

微型三角度光澤儀μ可在幾秒內(nèi)在同一個測量點上同時測量

這兩個參數(shù)，不僅節(jié)省時間而且在現(xiàn)場使用也十分理想- 僅

需使用1臺儀器。

△同時顯示20°,  60°, 85° –  用于高、中、低光澤涂料

△磁性/非磁性兩用型探頭–在鋼或鋁基材上測量涂層厚度

標(biāo)準(zhǔn)

光澤

厚度

ISO

2318 7668

2178、2360、2808

ASTM

D523

B499、D1400

DIN

67530

微型光澤儀S系列

啞光表面處理不僅是新的設(shè)計趨勢，而且對于要求表面無反射

或低反射這類應(yīng)用而言也是至關(guān)重要的- 例如汽車內(nèi)飾件。

通常有各種各樣的材料，從皮革到塑料，同時使用時需要和諧

*。另外，從大顆粒到精細(xì)的條紋等各種不同的表面結(jié)構(gòu)通

常呈現(xiàn)出非常低的光澤。為了確保在不同部件上*的視覺感

受，必須規(guī)定極嚴(yán)格的允差范圍。

只有極其精準(zhǔn)的測試儀器才能客觀地控制生產(chǎn)。新型光澤儀   S

系列產(chǎn)品提升了60°角度下在低光澤（0-20GU）范圍內(nèi)的測量

精度。通過在光澤儀生產(chǎn)過程中具有的校準(zhǔn)程序，保證了

的精度。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍

0 - 20 GU

10 - 100 GU

100 - 2000 GU

重復(fù)性

± 0.1 GU

± 0.2 GU

± 0.2 %

重現(xiàn)性

± 0.2 GU

± 0.5 GU

± 0.5 %